Optimisation of Inelastic X-ray Scattering imaging parameters for the study of artists' pigments

La diffusion inélastique des rayons X (IXS) est une méthode puissante pour étudier les matériaux. Il est préférable de réduire le temps d’irradiation afin de préserver au maximum les échantillons, ce qui peut affecter l’interprétation des données. Nous proposons une approche statistique pour optimiser les paramètres expérimentaux afin de tirer le meilleur parti d’un temps de collecte donné.